Get 20M+ Full-Text Papers For Less Than $1.50/day. Start a 14-Day Trial for You or Your Team.

Learn More →

Erratum: Measurement of the D * ( 2010 ) + Meson Width and the D * ( 2010 ) + <?format ?> - <?format ?> D 0 Mass Difference <?format ?>( Phys. Rev. Lett. 111 , 111801 ( 2013 ) )

Erratum: Measurement of the D * ( 2010 ) + Meson Width and the D * ( 2010 ) + -... to be 1.8 and 2.0 keV, respectively. These values should have been 1.7 and 1.9 keV, again, respectively. The combined result for Ám0 given in the paper is unaffected. 0031-9007=13=111(16)=169902(1) 169902-1 Ó 2013 American Physical Society http://www.deepdyve.com/assets/images/DeepDyve-Logo-lg.png Physical Review Letters American Physical Society (APS)

Erratum: Measurement of the D * ( 2010 ) + Meson Width and the D * ( 2010 ) + <?format ?> - <?format ?> D 0 Mass Difference <?format ?>( Phys. Rev. Lett. 111 , 111801 ( 2013 ) )

Lees, J.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Stugu, B.; Brown, D.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lee, M.; Lynch, G.; Koch, H.; Schroeder, T.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; So, R.; Khan, A.; Blinov, V.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Kravchenko, E.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Yushkov, A.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Mandelkern, M.; Dey, B.; Gary, J.; Long, O.; Vitug, G.; Campagnari, C.; Franco Sevilla, M.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Richman, J.; West, C.; Eisner, A.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schumm, B.; Seiden, A.; Chao, D.; Cheng, C.; Echenard, B.; Flood, K.; Hitlin, D.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F.; Andreassen, R.; Fabby, C.; Huard, Z.; Meadows, B.; Sokoloff, M.; Sun, L.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Wagner, S.; Ayad, R.; Toki, W.; Spaan, B.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Playfer, S.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Martellotti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Lo Vetere, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Bhuyan, B.; Prasad, V.; Morii, M.; Adametz, A.; Uwer, U.; Lacker, H.; Dauncey, P.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Meyer, W.; Prell, S.; Rubin, A.; Gritsan, A.; Arnaud, N.; Davier, M.; Derkach, D.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lutz, A.; Malaescu, B.; Roudeau, P.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Coleman, J.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Cowan, G.; Bougher, J.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Prencipe, E.; Barlow, R.; Lafferty, G.; Behn, E.; Cenci, R.; Hamilton, B.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Sciolla, G.; Cheaib, R.; Patel, P.; Robertson, S.; Biassoni, P.; Neri, N.; Palombo, F.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Sonnek, P.; Summers, D.; Nguyen, X.; Simard, M.; Taras, P.; De Nardo, G.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Martinelli, M.; Raven, G.; Jessop, C.; LoSecco, J.; Honscheid, K.; Kass, R.; Brau, J.; Frey, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Torrence, E.; Feltresi, E.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Sitt, S.; Biasini, M.; Manoni, E.; Pacetti, S.; Rossi, A.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Perez, A.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Lopes Pegna, D.; Olsen, J.; Smith, A.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Piredda, G.; Bünger, C.; Grünberg, O.; Hartmann, T.; Leddig, T.; Voß, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Hamel de Monchenault, G.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Anulli, F.; Aston, D.; Bard, D.; Benitez, J.; Cartaro, C.; Convery, M.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R.; Fulsom, B.; Gabareen, A.; Graham, M.; Hast, C.; Innes, W.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Lewis, P.; Lindemann, D.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Wang, W.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Ziegler, V.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Randle-Conde, A.; Sekula, S.; Bellis, M.; Burchat, P.; Miyashita, T.; Puccio, E.; Alam, M.; Ernst, J.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D.; Soffer, A.; Spanier, S.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schwitters, R.; Wray, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; De Mori, F.; Filippi, A.; Gamba, D.; Zambito, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Villanueva-Perez, P.; Ahmed, H.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bernlochner, F.; Choi, H.; King, G.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Lueck, T.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Tasneem, N.; Gershon, T.; Harrison, P.; Latham, T.; Band, H.; Dasu, S.; Pan, Y.; Prepost, R.; Wu, S.
Physical Review Letters , Volume 111 (16) – Oct 16, 2013

Loading next page...
 
/lp/american-physical-society-aps/erratum-measurement-of-the-d-2010-meson-width-and-the-d-2010-format-EXMaFnZmNm

References

References for this paper are not available at this time. We will be adding them shortly, thank you for your patience.

Publisher
American Physical Society (APS)
Copyright
© 2013 American Physical Society
ISSN
0031-9007
DOI
10.1103/PhysRevLett.111.169902
Publisher site
See Article on Publisher Site

Abstract

to be 1.8 and 2.0 keV, respectively. These values should have been 1.7 and 1.9 keV, again, respectively. The combined result for Ám0 given in the paper is unaffected. 0031-9007=13=111(16)=169902(1) 169902-1 Ó 2013 American Physical Society

Journal

Physical Review LettersAmerican Physical Society (APS)

Published: Oct 16, 2013

There are no references for this article.