%0 Journal Article
%T Measurement of the layer thickness on rotating substrates in molecular-beam epitaxy apparatus
%A Aleksandrov, S. E.
%A Gavrilov, G. A.
%A Sotnikova, G. Yu.
%A Alekseev, A. N.
%A Baranov, D. A.
%A Shkurko, A. P.
%J "Technical Physics"
%V 54
%N 7
%P 1066-1069
%@ 1063-7842
%D 2009-07-01
%I SP MAIK Nauka/Interperiodica
%~ DeepDyve